磁翻板液(ye)位計排(pai)除故(gu)障解決(jue)方(fang)法(fa)

壹(yi)、液(ye)位升降、儀表無指(zhi)示(shi)故障原(yuan)因(yin)：1.浮子(zi)漏(lou)或(huo)浮子(zi)損(sun)壞(huai);2.浮子(zi)失(shi)磁;3.浮子(zi)室內(nei)有(you)異物(wu)，浮子(zi)卡(ka)死(si)或(huo)不能升(sheng)降。

　　故(gu)障排(pai)除方(fang)法(fa)：1.清理(li)液(ye)位計的(de)測(ce)量(liang)桶(tong);2.更(geng)換浮子(zi)。

二(er)、翻柱指(zhi)示不正(zheng)常(chang)故障原(yuan)因(yin)：磁翻柱失(shi)磁。

　　故(gu)障排(pai)除方(fang)法(fa)：更(geng)換部分失(shi)磁的(de)翻柱。

三、儀表發(fa)生(sheng)滲(shen)漏(lou)：

　　1.故(gu)障原(yuan)因(yin)：密封處(chu)沒(mei)有密封好。故(gu)障排(pai)除方(fang)法(fa)：壓(ya)緊(jin)密封面;

　　2.故(gu)障原(yuan)因(yin)：密封件損(sun)壞(huai)。故障排(pai)除方(fang)法(fa)：更(geng)換密封墊;

　　3.故(gu)障原(yuan)因(yin)：焊縫開(kai)裂。故(gu)障排(pai)除方(fang)法(fa)：補焊或(huo)送制造廠家(jia)維(wei)修(xiu)。

當(dang)然(ran)，防腐性(xing)磁翻板液(ye)位計還(hai)有(you)其他的(de)排(pai)除故(gu)障解決(jue)方(fang)法(fa)：

　　壹(yi)、觀察(cha)法(fa)。利(li)用(yong)視覺(jiao)、嗅覺(jiao)、觸覺(jiao)。某(mou)些(xie)時(shi)候(hou)，損(sun)壞(huai)了的(de)元(yuan)件(jian)會(hui)變色(se)、起泡或(huo)出(chu)現燒(shao)焦的(de)斑(ban)點(dian);燒壞(huai)的(de)器(qi)件(jian)會產生(sheng)壹(yi)些特(te)殊(shu)的(de)氣味(wei);短路(lu)的(de)芯片會(hui)發(fa)燙;用(yong)肉眼(yan)也(ye)能(neng)觀察(cha)到虛焊(han)或(huo)脫焊處(chu)。這(zhe)種方(fang)法(fa)更(geng)適(shi)合經驗豐(feng)富(fu)的(de)工(gong)作(zuo)人員(yuan)。

　　二、對比(bi)法(fa)。要求(qiu)有(you)兩(liang)臺同(tong)型(xing)號(hao)的(de)儀表，並(bing)有壹(yi)臺磁性(xing)浮子(zi)液(ye)位計是(shi)正(zheng)常(chang)運行(xing)的(de)。使(shi)用(yong)這(zhe)種方(fang)法(fa)還(hai)要具備(bei)必要的(de)設(she)備(bei)，例如，萬(wan)用(yong)表、示(shi)波(bo)器(qi)等。按比(bi)較(jiao)的(de)性質(zhi)分有(you)，電壓(ya)比(bi)較(jiao)、波(bo)形比(bi)較(jiao)、靜(jing)態(tai)阻抗(kang)比(bi)較(jiao)、輸(shu)出(chu)結果(guo)比(bi)較(jiao)、電流(liu)比(bi)較(jiao)等。

　　三、替換法(fa)。要求(qiu)有(you)兩(liang)臺同(tong)型(xing)號(hao)遠傳(chuan)磁翻板液(ye)位計的(de)儀器(qi)或(huo)有(you)足夠的(de)備(bei)件。將壹(yi)個(ge)好的(de)備(bei)品與(yu)故障機上(shang)的(de)同(tong)壹(yi)元(yuan)器(qi)件(jian)進行(xing)替換，看(kan)故障是(shi)否消(xiao)除。

　　四、排(pai)除法(fa)。通過拔(ba)插機內(nei)壹(yi)些(xie)插件(jian)板、器(qi)件(jian)來判斷(duan)故(gu)障原(yuan)因(yin)的(de)方(fang)法(fa)。當(dang)拔(ba)除某(mou)壹(yi)插件板或(huo)器(qi)件(jian)後儀表恢復正(zheng)常(chang)，就說(shuo)明故障發(fa)生(sheng)在(zai)那(na)裏(li)。

　　五、並(bing)聯法(fa)。把壹塊(kuai)好的(de)IC芯片安(an)在(zai)要檢(jian)查的(de)芯片之(zhi)上(shang)，或(huo)者(zhe)把好的(de)元(yuan)器(qi)件(jian)(電阻電(dian)容(rong)、二(er)極(ji)管(guan)、三極(ji)管(guan)等)與(yu)要檢(jian)查的(de)元(yuan)器(qi)件(jian)並(bing)聯，保(bao)持(chi)良好接(jie)觸，如果(guo)故(gu)障出(chu)自(zi)於(yu)器(qi)件(jian)內部(bu)開(kai)路(lu)或(huo)接(jie)觸不良等原(yuan)因(yin)，則采(cai)用(yong)這(zhe)種方(fang)法(fa)可(ke)以排(pai)除。

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